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X 射線熒光測量系統(tǒng) |
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| 型 號：X-RAY 5000 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：在生產(chǎn)過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測量和分析 |
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昭通X 射線熒光測量系統(tǒng)-X-RAY 5000-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測量系統(tǒng)，北京時代涂層測厚儀，用于在生產(chǎn)過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測量和分析
特點(diǎn)
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法蘭測量頭，涂層膜厚測試儀，用于在生產(chǎn)線中進(jìn)行連續(xù)測量
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X射線探測器可以為比例計(jì)數(shù)管，qnix1200涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
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在生產(chǎn)過程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡單校
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可在真空或大氣中使用
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可以在最高 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測量
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堅(jiān)固和耐用是設(shè)計(jì)的重心
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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光伏技術(shù)（CIGS，日照涂層測厚儀應(yīng)用，CIS，涂層測厚儀 北京時代，CdTe）
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分析對金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
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連續(xù)生產(chǎn)線
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噴射和電鍍生產(chǎn)線監(jiān)測
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測量大面積樣品
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