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高性能X射線熒光測量儀，金屬涂層測厚儀，配有最先進的硅漂移探測器(SDD)，薄膜涂層測厚儀，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

特點

• 高性能機型，涂層測厚儀型號，具有強大的綜合測量能力
• 配有4 個電動調節(jié)的準直器和6個電動調節(jié)的基本慮片
• 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，槍式涂層測厚儀，還適用于更復雜的多元素分析
• 由下至上的測量方向，mpo 涂層測厚儀，可以非常簡便地實現樣品定位  

典型應用領域

• 對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
• 對有害物質進行痕量分析，涂層測厚計，例如，電渦流涂層測厚儀，玩具中的鉛含量
• 在珠寶和手表業(yè)，廣州涂層測厚儀，以及在金屬精煉領域，科電涂層測厚儀，對合金進行高精度的分析
• 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域