平?jīng)鐾繉訙y厚儀-MiniTest 7400-德國EPK

創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。

新概念的優(yōu)勢

直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。

配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數(shù)設(shè)置，無需專業(yè)技能，也可在最短的時間內(nèi)完成困難測量任務(wù)。先進的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù)，層次清楚的顯示統(tǒng)計值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計值。錯誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯誤的統(tǒng)計值。

龐大的數(shù)據(jù)儲存器為必要的數(shù)據(jù)管理，可保存高達500批組的250,000個讀數(shù)。為滿足高精度測量的要求，7400探頭可達到5點校準（包括零點）。預設(shè)的校準方法符合工業(yè)準則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標準。此外，延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。

為了方便建立和評估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出，涂層測厚儀說明書，標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel^®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點：測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報告中。

配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA^®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機、腳踏開關(guān)或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA^®^//USB接口轉(zhuǎn)換器。

模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。

SIDSP^® 明顯優(yōu)勢

EPK此項探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標準。高精度，高重現(xiàn)性，對溫度變化不敏感，涂層測厚儀多少錢，適應性強，這些都是SIDSP^®的主要特點。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動化校準過程，而且每個探頭可獨立校準，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。無與倫比的精密生產(chǎn)過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

重現(xiàn)性

讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是最普遍的導致誤差的根源，所以保護測量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP^®在探頭內(nèi)部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號�；貍鞯男盘栔苯舆M行數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置，也就是說：在這種情況下模擬測量系統(tǒng)的信號傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。

EPK 的SIDSP^®探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP^®探頭的優(yōu)秀性能。

生產(chǎn)過程

在生產(chǎn)過程中，SIDSP探頭要經(jīng)過特殊的校準程序，探頭在特征曲線上高達50個點進行校準，如此多個點的校準使得特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精確以致可以消除其偏差。校準數(shù)據(jù)被永久儲存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連，都可以迅速地被檢索。此外，生產(chǎn)過程中，探頭的溫度性能永久地決定整個工作溫度范圍。這樣，每個探頭都可以獨立調(diào)整溫度補償，在任何溫度即使溫度大幅度變動，德國byk涂層測厚儀，特征曲線仍可保持其精確度。

探頭的適應性

有色金屬的導電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以精確測量多種導電性不同的有色金屬材料，無需特別在基體上校準儀器。

所有的SIDSP^®探頭充分地適應測量各種幾何形狀的樣品�？梢詫Σ灰�(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進行校準。

探頭設(shè)計選擇

不同的線纜插口類型更加靈活，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。

對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護，MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

MiniTest 7400 探頭

可選探頭

種類繁多的可換探頭，滿足各種應用要求。

可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

兩用型FN探頭自動識別基體材料。

與表面接觸后，儀器自動切換到合適的測量原理。因此，應用錯誤會被淘汰，加快了測量進程。

探頭技術(shù)參數(shù)

1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準

2.零點校準，并且校準值和預期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決于操作

5.根據(jù) DIN 55350第13部分

6.多點校準值優(yōu)于獲得的指定數(shù)據(jù).

7.包括涂層

探頭設(shè)計選擇

不同的線纜插口類型更加靈活，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。

　　　　　　　F 2 HD 探頭

對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

MiniTest 7400 主機技術(shù)參數(shù)

MiniTest 7400 可選配件

德国ElektroPhysik(简称EPK)公司是一家专门生产测厚仪的专业公司，自1954年以来一直致力于测厚类产品的开发和研究工作，是世界上最早生产测厚类产品的知名公司之一。

半个多世纪以来，EPK公司作为测厚领域的领军公司，在这个领域取得很高的声誉，有着不可替代的地位。EPK产品包括：MikroTest麦考特系列机械型涂镀层测厚仪，MiniTest 70系列口袋式便携式涂镀层测厚仪，MiniTest 700系列创新型SIDSP涂镀层测厚仪，MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂镀层测厚仪，MiniTest 600系列电子型涂镀层测厚仪，QUINTSONIC超声波涂层测厚仪，GALVANOTEST库仑镀层测厚仪，MiniTest 7200/7400 FH壁厚测厚仪，MiniTest 400系列超声波测厚仪，CTM-S连续厚度测量系统，StratoTest 4100路面测厚仪，StratoTest 4100 C炉壁测厚仪，PoroTest 7涂层针孔检测仪等。


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