|
創(chuàng)新的用戶界面概念結合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。
新概念的優(yōu)勢 直觀的菜單控制及與上下文相關的聯(lián)機幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。 配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數(shù)設置，無需專業(yè)技能，也可在最短的時間內完成困難測量任務。先進的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù)，層次清楚的顯示統(tǒng)計值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計值。錯誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產生錯誤的統(tǒng)計值。
龐大的數(shù)據(jù)儲存器為必要的數(shù)據(jù)管理，可保存高達500批組的250,000個讀數(shù)。為滿足高精度測量的要求，7400探頭可達到5點校準（包括零點）。預設的校準方法符合工業(yè)準則和ISO 19840，SSPC，數(shù)字涂層測厚儀，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標準。 此外，延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。 為了方便建立和評估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出，標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點：測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報告中。
配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設備，如外借電源、耳機、腳踏開關或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉換器。 模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP® 明顯優(yōu)勢 EPK此項探頭內部數(shù)字信號處理新技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。高精度，高重現(xiàn)性，對溫度變化不敏感，適應性強，這些都是SIDSP®的主要特點。創(chuàng)新的生產技術結合自動化校準過程，而且每個探頭可獨立校準，時代涂層測厚儀，從而生產出高質量7400的探頭。 這主要源于充分利用了SIDSP技術賦予的優(yōu)勢。無與倫比的精密生產過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質。
重現(xiàn)性 讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是最普遍的導致誤差的根源，涂料涂層測厚儀，所以保護測量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。 跟傳統(tǒng)技術不同，SIDSP®在探頭內部產生和控制激發(fā)信號。回傳的信號直接進行數(shù)字轉換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置，也就是說：在這種情況下模擬測量系統(tǒng)的信號傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。 EPK 的SIDSP®探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP®探頭的優(yōu)秀性能。
探頭的適應性 有色金屬的導電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以精確測量多種導電性不同的有色金屬材料，無需特別在基體上校準儀器。 所有的SIDSP®探頭充分地適應測量各種幾何形狀的樣品�？梢詫Σ灰�(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。
探頭設計選擇 不同的線纜插口類型更加靈活，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。
對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護，MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。 對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。
MiniTest 7400 探頭 可選探頭 種類繁多的可換探頭，滿足各種應用要求。 可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。
兩用型FN探頭自動識別基體材料。 與表面接觸后，儀器自動切換到合適的測量原理。 因此，應用錯誤會被淘汰，加快了測量進程。
探頭技術參數(shù)
1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準 2.零點校準，并且校準值和預期的涂層厚度接近 3.使用精密支架，不適用HD探頭 4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決于操作 5.根據(jù) DIN 55350第13部分 6.多點校準值優(yōu)于獲得的指定數(shù)據(jù). 7.包括涂層 探頭設計選擇 不同的線纜插口類型更加靈活，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。
對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護，MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。
F 2 HD 探頭 對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。 MiniTest 7400 主機技術參數(shù)
MiniTest 7400 可選配件
|
||||||||||||||||||
 |
       |
| www.yzsuntu.com 鶴壁涂層測厚儀 版權所有 備案號: 魯ICP備08106748號 |  |