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高性能X射線熒光測試儀 |
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型 號:XDV -SDD |
品 牌:德國菲希爾Fischer |
技術(shù)指標(biāo):可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素 |
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達州高性能X射線熒光測試儀-XDV -SDD-德國菲希爾Fischer
高性能X射線熒光測試儀,涂層測厚儀圖片,配有可編程XY平臺和Z軸,濟南涂層測厚儀培訓(xùn),可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點
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高級型號儀器,涂層測厚儀原理,具有常見的所有功能
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射線激發(fā)量的靈活性最大,電鍍層測厚儀,激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
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通過硅漂移探測器,壁厚儀,在 > 10萬cps(每秒計數(shù)率) 的超高信號量下也可以正常工作,噴涂層測厚儀,而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
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極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
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帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
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大容量便于操作的測量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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測量極薄的鍍層,表面涂層測厚儀,例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
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痕量分析,涂層測厚儀多少錢,例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進行檢測
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進行高精度的黃金和貴金屬分析
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光伏產(chǎn)業(yè)
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測量 NiP 鍍層的厚度和成分
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