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技術(shù)文章
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    表面粗糙度、輪廓形狀一體測(cè)量?jī)x
    型 號(hào):SV-C3200/SV-C4500
    品 牌:日本三豐Mitutoyo
    技術(shù)指標(biāo):測(cè)量范圍 X 軸 (驅(qū)動(dòng)部) 100mm
    Z1 軸 (檢出器) 800μm/80μm/8μm
    達(dá)州表面粗糙度、輪廓形狀一體測(cè)量?jī)x-SV-C3200/SV-C4500-日本三豐Mitutoyo
    Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機(jī)
    Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)
    通過(guò)更換檢測(cè)器,一臺(tái)機(jī)器上即能測(cè)量表面粗糙度和輪廓形狀的高精度一體型測(cè)量機(jī) ,泰勒便攜式粗糙度儀,同時(shí)能測(cè)量表面粗糙度和測(cè)量輪廓形狀的混合型測(cè)量機(jī) 。

    產(chǎn)品特點(diǎn)

    • 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測(cè)量范圍為8μm時(shí))。
    • X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺,激光粗糙度測(cè)試儀,直接讀取X軸移動(dòng)距離,印刷表面粗糙度儀,在高精度精準(zhǔn)定位下,粗糙度儀精度,完成間距參數(shù)的評(píng)價(jià)。
    • 檢出器測(cè)力有4mN和0.75mN可選。


    • Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測(cè)臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測(cè)針的弧形軌跡,以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比,佛山 粗糙度儀,新測(cè)臂使Z1 軸測(cè)量范圍增大了10mm 同時(shí)減少了工件的干擾。測(cè)臂安裝部采用了磁性鏈接件,單此接觸就能完成測(cè)臂的裝卸,粗糙度表,提高了易用性。 • 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測(cè)量系統(tǒng)的專用功能。
    裝配雙錐面測(cè)針,實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測(cè)量,噴丸噴砂粗糙度儀,所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單分析以往難以測(cè)量的內(nèi)螺紋有效直徑。測(cè)力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無(wú)需調(diào)整配重。
    •卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序,通過(guò)簡(jiǎn)單的操作就能進(jìn)行高級(jí)分析并即刻輸出結(jié)果。
    • 表面粗糙度測(cè)試儀和輪廓測(cè)量?jī)x結(jié)合在一起,粗糙度儀使用,節(jié)省安裝空間。


    • 測(cè)臂安裝為一鍵式裝卸 (此項(xiàng)專利權(quán)在日本受理中)
    測(cè)臂安裝部采用了磁性連接件,實(shí)現(xiàn)了快速更換。此外,便捷式粗糙度儀,裝卸部?jī)?nèi)置了安全結(jié)構(gòu)。
    •繁瑣的校正也可以上下兩面連續(xù)一次性完成(此項(xiàng)專利權(quán)在日本受理中)
    SV-C4500 系列使用專業(yè)校正規(guī)(標(biāo)配附件),表面粗糙度與光潔度,通過(guò)改進(jìn)使得上下兩方附帶從動(dòng)件的上下圓錐測(cè)針能簡(jiǎn)便易行地進(jìn)行校正。Z1 軸增益、對(duì)稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。

    產(chǎn)品規(guī)格

    貨號(hào) SV-C3200S4 SV-C3200H4 SV-C3200W4 SV-C3200S8 SV-C3200H8 SV-C3200W8
    SV-C4500S4 SV-C4500H4 SV-C4500W4 SV-C4500S8 SV-C4500H8 SV-C4500W8
    測(cè)量表面粗糙度時(shí)
    測(cè)量范圍 X 軸 (驅(qū)動(dòng)部) 100mm 200mm
    Z1 軸 (檢出器) 800μm/80μm/8μm
    直線度 (0.05+L/1000) μm L: 驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度 (mm) 0.5μm/200mm
    分辨力 Z1軸(檢出器) 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
    測(cè)力 0.75mN (機(jī)身代碼末尾帶 “-1”的型號(hào))
    4mN (機(jī)身代碼末尾帶“-2”的型號(hào))
    測(cè)針針尖形狀 60º, 2μmR (機(jī)身代碼末尾帶 “-1”的型號(hào))
    90º, 5μmR (機(jī)身代碼末尾帶 “-2”的型號(hào))
    對(duì)應(yīng)尺寸 JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
    評(píng)價(jià)參數(shù) Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
    Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
    Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
    RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
    評(píng)價(jià)輪廓 原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動(dòng)圓波形原始輪廓、滾動(dòng)圓波形
    輪廓、包絡(luò)殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡(luò)波紋輪廓在評(píng)
    價(jià)MOTIF 時(shí)顯示)
    分析圖 負(fù)荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關(guān)、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關(guān)、頂峰分布、
    傾斜角分布、參數(shù)分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)
    曲線補(bǔ)償 最小平方直線、R 面補(bǔ)償、橢圓補(bǔ)償、拋物線補(bǔ)償、雙曲線補(bǔ)償、二次曲線補(bǔ)償、多項(xiàng)式
    補(bǔ)償(自動(dòng)或任意2~7 次)、無(wú)補(bǔ)償
    濾波器 高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器
    輪廓測(cè)量
    測(cè)量范圍 X軸(驅(qū)動(dòng)部) 100mm 200mm
    Z1軸(檢出器) 60mm (測(cè)臂水平位置±30mm)
    直線度 0.8μm/100mm 2μm/200mm
    精度 X軸(驅(qū)動(dòng)部) ±(0.8+0.01L)μm L: 驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度 (mm) ±(0.8+0.02L)μm L = 驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度 (mm)
    Z1軸(檢出器) SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm
    H: 水平位置上的測(cè)量高度 (mm)
    分辨力 X軸(驅(qū)動(dòng)部) 0.05 μm
    Z1軸(檢出器) SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm
    Z2軸(立性) 1 μm
    測(cè)力 SV-C3200 系列: 30mN (可調(diào)使用重量)
    SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據(jù)軟件轉(zhuǎn)換)
    側(cè)頭方向 SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨(dú)測(cè)量)
    SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據(jù)配重調(diào)整)
    通用時(shí)
    Z2軸 (立柱) 移動(dòng)量 300mm 500mm 300mm 500mm
    X 軸傾斜角度 ±45º
    驅(qū)動(dòng)速度 X 軸0 0 - 80mm/s 外加手動(dòng)
    Z2 軸 (立柱) 0 - 30mm/s 外加手動(dòng)
    測(cè)量速度 0.02 - 5mm/s
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